X-SIGHT 3D DIC SYSTEM

  • Universelle Lösung für alle technischen Messungen
  • Ideal für Bauteil- und Materialprüfungen
  • Einstellbar für eine breite Palette von Anwendungen
  • vollständige Funktionalität der DIC-Software

TECHNISCHE DATEN

*gemäß ISO 9513

  • In-Plane-Subpixel-Auflösung: < 0.008%
  • Auflösung der Subpixel außerhalb der Ebene: 0.016%
  • Auflösung der Dehnung 50 Mikrodehnungen
    • 10 Mikrodehnungen mit zeitlicher Mittelung
    • 5 Mikrodehnung im optischen Extensometer-Modus
  • Dehnungsbereich von 0,005% bis > 2000%
  • Messbereich (Probengröße) von 1 mm bis 100 m
    • < 10 mm Probe muss mit einem speziellen Mikroskop gemessen werden
    • 10 m lange Exemplare können nur mit der LOCF (Large Object Calibration Function) kalibriert werden.
  • DIC von natürlichen Mustern, Specklemustern, Bildmerkmalen und Markern

ANWENDUNGSBEISPIELE

Application examples